Equipement semi-conducteur
Mesure de l’écart à l’échelle micrométrique entre le wafer et la tête de process
Problème
Notre client, une start-up spécialisée dans les semi-conducteurs, recherchait une solution de mesure fiable et critique pour son systèmeprocesstraitement. Plusieurs tentatives, en interne comme en externe, s’étaient avérées infructueuses, aboutissant à une solution limitée et peu performante
Solution
Nous avons réalisé une analyse approfondie de la configuration existante, identifié les pistes d’optimisation et évalué différentes approches. Notre équipe a fourni un comparatif détaillé présentant les avantages et les inconvénients de chaque option. En collaboration avec le client, nous avons défini une solution plus performante et l’avons validée par des tests en laboratoire.
Résultat
Après deux mois d’étude, la nouvelle solution a permis d’améliorer les performances d’un facteur 10 et d’accroître considérablement les fonctionnalités, tout en maintenant un coût global similaire. Le nouveau système a depuis été installé sur tous les équipements.